[工學(공학) ]전기전자회로 experiment(실험) - BJT의 단자 property(특성)과 바이어싱 결과
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작성일 24-04-19 02:04
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npn형
오른쪽은 npn형 transistor(트랜지스터)
의 간략화된 구조이다.
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_SLIDE_1_
목차
test(실험) 목적
예비 지식
준비
기기 및 부품
test(실험) 과정
PSPICE test(실험) 결과
고찰
結論 및 오차
_SLIDE_2_
test(실험) 목적
활성 모드에서 동작하는 바이폴라 접합 transistor(트랜지스터) (BJT)의 단자 特性을 test(실험) 을 통해 이해한다.
BJT를 활성 모드에서 안정하게 동작시키기 위한 바이어싱(biasing) 회로를 test(실험) 을 통해 이해한다.
_SLIDE_3_
예비 지식
transistor(트랜지스터) 는 세 개의 반도체영역, 즉 emitter영역, base영역,collector영역으로 구성되며 이와 같은 transistor(트랜지스터) 를 우리는 npn형과 pnp형이라 부른다.
npn형 구조와 같은 이미터-베이스접합과 컬렉터-베이스접합으로 구성된다는 것을 알 수 있다
_SLIDE_4_
예비…(skip)
실험과제/전기전자
순서
설명
[工學(공학) ]전기전자회로 experiment(실험) - BJT의 단자 property(특성)과 바이어싱 결과
다.
그림을 보면 transistor(트랜지스터) 는 두
개의 pn접합, 즉 이미터-베이
스 접합(EBJ)과 컬렉터-베이스
접합(CBJ)으로 구성된다는 것
을 알 수 있다
pnp형
오른쪽은 pnp형 transistor(트랜지스터) 의 간략화된 구조이다.
