[자연과학] [방사선] X -ray Photoelectron Spectroscopy [XPS]재료 analysis법
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작성일 23-01-22 01:54
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A: 원자나 분자, A+*: 여기된 이온, hv: X-선 광자의 특성(特性)에너지, e-: 광전자라고 할 때,
A + hv → A+* + e-
이때 방출된 광전자의 운동에너지는 분석기와 검출기에서 정확히 측정(measurement)된다 방출된 광전자의 운동에너지 Ek는 X-선 광자의 특성(特性)에너지 hv에서 core 준위의 결합에너지 Eb와 분광계의 일함수 Ф를 뺀 값이 된다
Ek = hv - Eb - Ф
조사된 광전자의 에너지(hv)는 알 수 있으며, Ek와 Ф이 측정(measurement) 가능함으로써, 원자 내에서의 전자의 결합에너지(Eb)가 계산된다 이 결합에너지는 원자의 고유한 값(예: C1s전자 284eV, O1전자 532eV, Si 2p3/2 99eV 등) 을 갖기 때문에 표면에서 방출되는 광전자의 스펙트럼을 관측함으로써 표면의 조성…(skip)
3. 분석 방법과 분석 장비
ㄹ. 수직분포 분석 (Depth profiling)
ㅁ. 절연물질의 분석
ㅂ. 유기화합물의 분석
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X -ray Photoelectron Spectroscopy (XPS)


