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XRD를 이용한 미지의 시료 정량정성 analysis(분석)

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작성일 23-08-19 09:05

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XRD를 이용한 미지의 시료 정량정성 analysis(분석)
실험과제/기타

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XRD를 이용한 미지의 시료 정량정성 analysis(분석)

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목 차

1. 實驗(실험)목적

2. 배경理論

3. 實驗(실험)방법

4. 예상결과

5. XRD의 활용

6. 조원의 역할

7. JCPDS(ICDD) FILE

8. Reference List

XRD를 이용한 미지의 시료 정량/정성 analysis
1. 實驗(실험)목적
X선은 파장이 0.01~100Å정도의 전자기파이다. 본 實驗(실험)에서 이용하게 될 X-Ray Diffraction법(이하 XRD)은 X선의 파장이 원자 및 이온의 크기, 혹은 격자의 크기와 비슷한 상황에서 회절하는 현상을 이용하며, 결정구조를 해석하기 위한 가장 유력한 연구수단으로서 널리 사용된다
본 實驗(실험)에서는 전반적은 XRD를 이용한 시료analysis을 실습한다. 분말 형태의 시료(Al2O3 ZnO2 SiO2 TiO2 B2O3)를 임의의 조성으로 혼합한뒤, X-Ray Diffraction법으로 측정(測定) 한다. 이때 얻어진 회절데이터를 바탕으로 미지의 시료의 구성성분(成分) 및 조성, 농도 그리고 결정상태등을 해석…(skip)

설명
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다.
REPORT 11(sv76)


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